自动绝对反射率测量系统
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角
超低硫检测仪
这台可携带到操作现场的分析仪非常适用于超低硫检测,完全遵照国际新严格的硫浓度标准检测,例如:ASTM D7212,D4294,ISO20847,IP531。 适用于野外和实验室的低硫检测。 50Kv/50W EDXRF的系统能得出灵敏、精确、实时的检测结果。
TE致冷背入射CCD光谱仪
JBTC611E系列产品为高效TE致冷控温背入射式CCD光谱仪。它们配备了512×64元的高灵敏CCD阵列和优化的高速摄谱仪,具有光纤耦合输入能力,并内建带有高速USB2.0/1.1接口的16位模数转换仪。该产品提供了高的动态范围和信噪比,以及低的暗电流和长时间的操作稳定性,对于从紫外到近红外的微光检测都是理想配置。该系列产品还支持灵活的定制配置和定制应用支持。
光电探测器光谱响应测量系统
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